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射频综合测试仪MDR-T8200-P-G
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产品名称

射频综合测试仪MDR-T8200-P-G

此款射频综合测试仪,用于智能卡、RFID标签,低频/高频谐振频率检测,便携式测试装置,轻松地实现谐振频率、Q值、频宽等检测
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详细描述

       此款射频综合测试仪,用于智能卡、RFID标签,低频/高频谐振频率检测,便携式测试装置,轻松地实现谐振频率、Q值、频宽等检测。

 

       射频综合测试仪检测功能介绍:
        •   智能卡、RFID标签的谐振频率等参数检测:有些智能卡或RFID标签的谐振频率会随着射频功率的变化而改变。该设备可将射频功率设置在-30dBm至15dBm范围
            内,并且可在高射频功率下确定谐振特性,使安装在卡或RFID标签上的芯片能够进行通信
        •   UID追踪与管理:使用UID进行可跟踪管理(检查日志保存为CSV格式的文本文件)

 

       射频综合测试仪应用范围:
       1、智能卡、RFID标签的谐振频率检测
        •   判断测量结果是否通过
        •   自动生成检查日志文件
        •   读取芯片UID内码
        •   可调射频功率达到15dBm
        •   芯片绑定前可对射频天线检测

 

       2、RFID读写器天线的谐振频率检测
        •   检查电容器失效的共振频率

 

       3、无线电源供应的自谐振频率检测

 

       射频综合测试仪产品参数:
        •   测量方法:磁场耦合测量方法
        •   测量内容:传输电压和反射电压的振幅
        •   检测项目:谐振频率、衰减、Q值、UID读取
        •   支持协议:ISO14443A (MIFARE Classic, MIFARE Ultralight);ISO14443 B(仅 PUPI), FEliCa;ISO15693 (Tag -it HF - I Plus/Pro, ICODE SLIX2)
        •   测量点数:100~2048点
        •   检测时间(高频频段测量点数=1000):谐振频率检测:0.5秒;谐振频率和ID读取:1秒(检测时间取决于PC端的设置、机器检测内容的设置、检测对象特性等)
        •   检测结果检测波形保存功能:检测日志文件(csv格式文本文件);UID, PASS / FAIL、谐振频率、衰减、Q值;波形数据:.csv, .jpg文件
        •   频率设置范围:10 KHz~100 MHz
        •   可调的射频功率(@50Ωload):-30~+15 dBm
        •   DIO 电路类型:隔离I/O
        •   支持系统:PC(OS) Windows7, Windows8.1, Windows10;USB 2.0 或更高
        •   电源:USB 总电源(小号电流500毫安或以下)
        •   装箱清单:主机、USB接口线、同轴电缆(2根)、高频标准卡尺寸测试治具及可选的不同尺寸规格的测试天线板、安装驱动盘
        •   尺寸:125(W)x165(D)x40(H)(不包括测试治具);
        •   重量:0.8kg

 

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